Spektrometr promieniowania X służy do identyfikacji pierwiastków danej substancji oraz określenia ich stężenia. Pierwiastki są wykrywane na podstawie charakterystycznej długości fali emisji wtórnego promieniowania RTG. Analiza ilościowa (ocena stężenia danego pierwiastka) jest możliwa poprzez pomiar intensywności energii (odpowiadającej danemu pierwiastkowi). Stężenie badanego pierwiastka określane jest za pomocą pomiaru intensywności linii jego charakterystyki. Obecnie metoda XRF jest techniką analityczną wykorzystywaną w badaniach niedestrukcyjnych. Metoda XRF ma szczególne znaczenie w przypadku analizy warstwy przypowierzchniowej oraz jest szeroko wykorzystywana w analizie składu, w szczególności w badaniach wyrobów metalowych, ceramicznych, szklanych oraz materiałów budowlanych.
FUNKCJE
Aparat wyposażony jest w polskojęzyczne oprogramowanie, pozwalające w prosty sposób wykonywać analizy ilościowe i jakościowe. Spektrometr PI-MKX 01 pozwala oznaczać pierwiastki chemiczne położone w układzie okresowym, od sodu (Na) w zakresie od 0,1 ppm do 100%:
- stężenie pierwiastków w próbkach wodnych, ściekach;
- zawartość pierwiastków w próbkach stałych, proszkach;
- grubości warstw metali, folii i innych pokryć metalicznych;
- zawartość metali w plastikach;
- zawartość pierwiastków w glebach stężenie pierwiastków w olejach, smarach, płynach chłodniczych;
- analiza zgodności elektroniki z dyrektywą ROHS;
- detekcja ołowiu;
- analiza rozpuszczonego węgla organicznego;
- segregacja złomu ( ELV );
- analiza próbek archeologicznych;
- analiza jakościowa i ilościowa.